光纖的熔接損耗的大小主要由三個因素決定：

　　1）、待熔接光纖的幾何精度：如包層圓度、芯包同心度等；

　　2）、待熔接的兩段光纖的對準情況：如端面之間的間隙，纖軸的傾斜，端面的傾斜與彎曲等；

　　3）、待熔接的兩段光纖的模場直徑匹配的情況：熔接損耗會因為模場直徑的失配而增大。

　　G657標準對光纖的幾何特性有非常嚴格的要求，滿足G.657標準的光纖完全可以保證光纖的幾何精度；同時現(xiàn)有的光纖端面切割和光纖熔接設備可以保證光纖的端面切割質(zhì)量和待熔接光纖的對準；更為重要的是，G.657系列光纖在研發(fā)階段就考慮到與G.652光纖的熔接問題，因此采用了全固的材料結構組成并選用了大小合適的模場直徑設計值，以實現(xiàn)與G.652光纖低的熔接損耗。